SA8000半導體參數分析儀介紹：

半導體器件參數分析儀是一種用于測試半導體器件電學性能的工藝試驗儀器。它支持電流-電壓（IV）、電容-電壓（CV）、脈沖/動態IV等多種特性表征，是半導體研發、制造和質量控制的關鍵設備。該類儀器通常采用模塊化設計，用戶可根據測試需求靈活配置功能模塊，并配備專用軟件和觸摸屏界面以簡化操作流程。其高精度測量能力（如f安級電流、µV級電壓分辨率）適用于從基礎器件到工藝的廣泛表征需求，在半導體、消費電子、汽車電子等多個領域均有應用

憑借自主可控的架構創新，打開了國產設備的規模化應用空間。該產品基于全自主知識產權的 PXIe 架構設計，最多支持 18 個模塊同時工作，可靈活組合直流 IV、CV、快速脈沖測量單元，通過高速總線與統一同步觸發管理，實現多模塊的精準協同測試，無需在多臺儀器間反復切換，大幅提升測試效率與數據一致性。其核心測量能力達到 0.1fA 的電流分辨率，可穩定捕捉憶阻器、量子點等器件的超微弱信號；同時搭載無需編程的 Quick Test 模式，支持 Python 自定義器件測試算法，兼顧了易用性與靈活性，目前已進入復旦大學、清華大學等國內高校的采購清單，在二維材料、神經形態計算等前沿研究領域實現了落地應用。

核心性能參數

電流測量能力：0.1 fA（10?1? A）超高電流分辨率，可穩定捕捉憶阻器、量子點等器件的超微弱信號

硬件架構：基于 PXIe 架構，最多支持 18 個模塊同時工作，配備高速總線通訊 + 統一同步觸發管理，無需多臺儀器切換

測試覆蓋：可靈活組合直流 IV、CV、快速脈沖測量單元，適配多種 PXIe 儀表

軟件能力：

無需編程的 Quick Test 模式（經典測試 / 應用測試 / 序列測試三種模式）

支持 Python 編程自定義器件測試算法，開放二次開發

產品優勢  
微弱電流探測
依托在源表領域持續多年的技術積累，SA8000實現了 0.1 fA（10-16 A）的電流測量分辨率，能穩定捕捉憶阻器、量子點等器件的超微弱信號，為前沿探索提供可靠的微弱信號測量能力。

全集成多維度測試能力
系統基于PXIe架構支持最多18個模塊同時工作，可靈活組合直流IV、CV及快速脈沖測量單元。通過高速總線通訊及統一的同步觸發管理，可以適配多種PXIe儀表。無需在多臺儀器間反復切換，顯著提升測試效率與數據一致性。

無需編程的Quick Test模式
經典測試模式：支持靈活多樣的參數配置，滿足多種測試場景需求；應用測試模式：可選用預置的多種器件算法，快速測試器件的特性曲線或關鍵參數；序列測試模式：支持自動順序執行由多個經典測試或應用測試編輯的測試序列；

自定義器件測試算法應用測試模式中的器件算法使用python 編程，開放供客戶自定義器件測試算法。用戶可根據自身研究需求，自定義器件的測試過程以及參數提取算法，極大提升測試靈活性與算法可復現性。

主要可選模塊如下：

典型應用

SA8000 廣泛應用于各類半導體器件的研發與測試場景，涵蓋傳統器件與前沿研究領域：

典型的前沿領域應用：

1.憶阻器與神經形態計算研究內置波形產生與快速測量單元，最小脈寬200ns，可實時記錄阻變過程，為類腦計算芯片提供高保真原始數據。
2.二維材料與量子器件研究得益于 0.1fA 的超低電流分率測量能力，SA8000 可精準表征二維材料（如石墨烯、MoS?）的微弱電導變化，支持量子點等新型器件的工作機制研究。